高低溫沖擊測試設(shè)備用于、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備,用于測試和確定電子電工、材料及其他產(chǎn)品在進(jìn)行高溫、低溫或恒溫濕熱試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
電池蓋高低溫沖擊測試設(shè)備圖片 ※目的:加速應(yīng)力試驗(yàn) 加速壽命試驗(yàn) 環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)(ESS) ※試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):MIL-STD-202 MeTSod 107 IEC60749-25 JEDEC JESD22-A104-b IEC68-2-1 MIL-STD-2164-85 ※試驗(yàn)方法:溫度沖擊試驗(yàn) 溫度循環(huán)試驗(yàn) ※試驗(yàn)環(huán)境:比使用環(huán)境更嚴(yán)酷 極限使用環(huán)境 ※試樣:零部件 元器件,焊點(diǎn)(BGA,CSP) 成品 ※試樣尺寸:小比較大 ※試驗(yàn)溫度范圍:-40(-55)~125(150)℃、 -40(-65)~125(150)℃、 -40(-0)~100℃ ※型號(hào) TS-80 內(nèi)形尺寸D×W×H 400×400×500 ※型號(hào)TS -225 內(nèi)形尺寸D×W×H 500×600×750 ※型號(hào)TS -500 內(nèi)形尺寸D×W×H 700×800×900 ※型號(hào)TS -800 內(nèi)形尺寸D×W×H 800×1000×1000 ※型號(hào)TS -1000 內(nèi)形尺寸D×W×H 1000×1000×1000 電池蓋高低溫沖擊測試設(shè)備圖片 溫度變化率: 1槽法:大于30℃/分鐘 (空氣) 2槽法:大于50℃/分鐘 (空氣) 1槽法:小于15℃/分鐘 (試樣) 1槽法:小于20℃/分鐘 (空氣) 加速系數(shù): 100~500倍 比加速試驗(yàn)加速系數(shù)小 10~20倍 試驗(yàn)結(jié)果:設(shè)計(jì)信息 生產(chǎn)品質(zhì)差異驗(yàn)證 電池蓋高低溫沖擊測試設(shè)備圖片 溫度沖擊試驗(yàn): 1.升溫/降溫速率不低于30℃/分鐘。溫度變化范圍很大,同時(shí)試驗(yàn)嚴(yán)酷度還隨著溫度變化率的增加而增加。 2.溫度沖擊試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)的差異主要是應(yīng)力負(fù)荷機(jī)理不同。溫度沖擊試驗(yàn)主要考察由于蠕變及疲勞損傷引起的失效,而溫度循環(huán)主要考察由于剪切疲勞引起的失效。 3.溫度沖擊試驗(yàn)容許使用二槽式試驗(yàn)裝置;溫度循環(huán)試驗(yàn)使用單槽式試驗(yàn)裝置。在二槽式箱體內(nèi),溫度變化率要大于50℃/分鐘。 ※引起溫度沖擊的原因:回流焊,干燥,再加工,修理等制造、修理工藝中劇烈的溫度變化。 ※加速應(yīng)力試驗(yàn):加速試驗(yàn)是使用比在實(shí)際環(huán)境中更短的時(shí)間,對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行的加速試驗(yàn),以考察其失效機(jī)理。試驗(yàn)的加速就是采用加大應(yīng)力的方法促使試驗(yàn)樣品在短期內(nèi)失效,。但是必須注意避免其它應(yīng)力原因引起的失效機(jī)理。 溫度循環(huán)試驗(yàn): 1.溫度循環(huán)就是將試驗(yàn)樣品曝露于予設(shè)的高低溫交替的試驗(yàn)環(huán)境中。為避開溫度沖擊影響,試驗(yàn)時(shí)的溫度變化率必須小于20℃/分鐘。同時(shí),為達(dá)到蠕變及疲勞損傷的效果,推薦試驗(yàn)溫度循環(huán)為25℃~100℃,或者也可根據(jù)產(chǎn)品的用途使用0℃~100℃的循環(huán)試驗(yàn),曝露時(shí)間為各1 5分鐘。 2.環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)(ESS= Environmental Stress Screening): 3.對(duì)產(chǎn)品施加環(huán)境應(yīng)力促使早期失效產(chǎn)品存在的潛在缺陷盡快而予以剔除。ESS不是加速可靠性試驗(yàn),主要適用于成品的可靠性篩選試驗(yàn)。 以上是關(guān)于艾思荔電池蓋高低溫沖擊測試設(shè)備圖片的相關(guān)參數(shù),如需了解更多關(guān)于電池蓋高低溫沖擊測試設(shè)備圖片保養(yǎng)、維護(hù)、維修等信息,請(qǐng)! : : 陳 傳真: : :asLi898 ?。?/span>www.pct-asLi.com 電池蓋高低溫沖擊測試設(shè)備圖片
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